梅特勒-托利多（Mettler Toledo）AB304-S/FACT 电子分析天平是该品牌经典 AB-S 系列中的代表性高精度称量设备，以 0.1 mg 的高可读性和 320 g 的最大称量范围，成为各类实验室进行精密定量工作的核心工具。该天平最引人注目的核心是搭载了梅特勒独家的 FACT（Fully Automatic Calibration Technology）全自动校准技术，这一功能彻底改变了传统分析天平依赖人工定期外部校准的繁琐模式；FACT 系统在天平方体内集成有高精度内部砝码，用户既可预设温度变化阈值（如温差超过一定数值），也可设定具体的时间间隔，当天平传感器探测到环境温度漂移达到触发条件或时钟到达预定点时，便会自动、无声且无需人工干预地完成内部校准过程。这种智能校准机制能有效消除环境温差、空调启停、昼夜波动等导致的称量误差，确保天平 7×24 小时始终处于最佳线性与准确度状态，不仅极大提升了实验效率、避免了人为遗忘校准带来的数据风险，其自动生成的校准日志（含日期、时间与结果）还能作为关键的质量追溯依据，轻松满足 GMP、GLP 及 21 CFR Part 11 等严格法规对数据完整性与审计追踪的要求，是制药、食品及第三方检测等合规性实验室的理想选择。

在传感系统与机械结构设计上，AB304-S/FACT 采用了梅特勒成熟的 MonoBloc 单模块传感器技术，将电磁力补偿传感器的关键部件集成在单一结构块中，相较传统多组件传感器具有更紧凑的体积、更强的抗过载与抗冲击能力，长期使用的漂移极小，重复性与线性误差控制极为出色（重复性 0.1 mg，线性 ±0.2/±0.4 mg）。整机外壳采用全金属铸铝机架，配以防化、防撞击的表面处理，赋予仪器极佳的耐用性与接地稳定性，能从容应对实验室试剂偶尔溅洒或碰撞的风险；同时标配塑料机架保护罩，进一步避免散落样品或腐蚀性粉末对机身的侵蚀。人性化设计方面，天平配备高对比度的背亮式液晶显示屏（部分资料称 VFD 屏），数字清晰易读，操作键盘布局直观，内置多种实用称量应用程序，包活简单称量、百分比称量、计件称量（密度测定需选配）及动态称量（用于活体或不稳定样品），并支持克（g）、毫克（mg）、磅（lb）、盎司（oz）等多种单位切换，可拆卸的三扇式玻璃防风罩不仅方便取放样品，更能快速拆卸进行深度清洁，防止交叉污染，特别适合处理高活性或有毒粉末。

此外，AB304-S/FACT 在数据与外围交互上也保持了良好的通用性，机身后部标配 RS232-C（Sub-D 9pin）通讯接口，可直连打印机、电脑或实验室信息管理系统（LIMS），实现称量数据的自动传输、无纸化记录与防篡改存储，减少人工转录错误；底部还设有下挂称量挂钩，支持密度测定或大体积样品的外置称量需求，并允许使用 100g 或 200g 外部砝码进行手动校验或线性检查。凭借 3.5–5 秒的典型稳定时间、低至 2.5 ppm/°C 的温度灵敏度漂移以及 Φ80 mm 的实用秤盘尺寸，该天平在制药企业的原料药配方与放行检测、化工与材料研发的试剂精确配制、食品化妆品行业的添加剂定量、高校与科研院所的日常分析教学及法医痕量物证称量等场景中均表现卓越。作为一款虽已退市但经受过长期市场验证的经典型号，梅特勒-托利多 AB304-S/FACT 以坚固可靠的全金属架构、革命性的 FACT 自动校准保障以及全面贴合实操的人性化细节，为实验室提供了长久精准、易用无忧的精密称量解决方案，至今仍在众多高端实验室发挥余热。

其主要技术参数如下：